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方案介紹

氧化硅粉末中陰離子的測定

二氧化硅是制造玻璃、石英玻璃、水玻璃、光導纖維、電子工業的重要部件，是光學儀器、工藝品和耐火材料的原料，是科學研究的重要材料。多數應用領域對二氧化硅的純度有很高要求，而二氧化硅的合成方法主要有離子交換、硅粉法、硫酸法等，均需要加入化學試劑，因此對后續的純化技術提出較高要求。離子色譜提供了一種快速檢測二氧化硅中陰離子的方法，可指導生產并對成品的質量進行監測。

色譜條件

分析柱：SH-G-1+SH-AP-1

流動相：15 mM KOH(EG)

流速：0.7 mL/min

柱溫：35℃

抑制器：SHY-A-6

進樣體積：100 μL

前處理：準確稱取 6.0 g 樣品（精確至 0.0001 g）于聚四氟乙烯燒杯中，準確加入 60 mL高純水，磁力攪拌 10 min，用磁鐵取出磁子，蓋上蓋子。將聚四氟乙烯燒杯轉移到烘箱中，95℃烘 20 h，取出冷卻至室溫，混合均勻?；旌弦后w倒入離心管中，離心機上3000 r/min 離心 30 min，將上清液倒入干凈離心管中，過 0.22 μm 一次性針頭過濾器進6.807' Na19.580' Mg30.633' Ca5樣分析。

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氧化硅粉末中陰離子譜圖


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